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  Origin of surface layer on common substrates for functional material films probed by ellipsometry 相关领域
椭圆偏振法
图层（电子）
材料科学
曲面（拓扑）
纳米技术
薄膜
数学
几何学
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期刊：Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics 作者：A. I. Belyaeva; , 21 Frunze st., 61002 Kharkov, Ukraine 出版日期：2003-03-18 |
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