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 InGaAs/InP SPAD detecting single photons at 1550 nm with up to 50% efficiency and low noise 相关领域
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期刊：2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) 作者：Fabio Signorelli; Fabio Telesca; Enrico Conca; Adriano Della Frera; Alessandra Ruggeri; et al 出版日期：2021-12-11 |
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