| 标题 |
Oxygen migration in TiO2-based higher-k gate stacks |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Journal of Applied Physics 作者:SangBum Kim; Stephen L. Brown; Stephen M. Rossnagel; John Bruley; Matthew Copel; et al 出版日期:2010-03-04 |
| 求助人 | |
| 下载 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)