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 Extracting the Temperature Dependence of Both Nanowire Resistivity and Junction Resistance from Electrical Measurements on Printed Silver Nanowire Networks 相关领域
纳米线
电阻率和电导率
材料科学
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期刊：ACS applied electronic materials 作者：Emmet Coleman; Adam G. Kelly; Cian Gabbett; Luke Doolan; Shixin Liu; et al 出版日期：2025-01-09 |
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