| 标题 |
Optoelectronic Characterization of Trap Density of States in Indium Gallium Oxide Thin-Film Transistors and Their Impact on Bias Stability |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:ACS Applied Materials & Interfaces 作者:Sang Yeon Kim; Je-Jun Lee; Jae Seok Hur; Buyeon Kim; Jung Pyo Hong; et al 出版日期:2026-02-20 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)