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The impact of post-deposition annealing on the performance of solution-processed single layer In 2 O 3 and isotype In 2 O 3 /ZnO heterojunction transistors |
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期刊:Journal of Materials Chemistry C 作者:Kornelius Tetzner; Ivan Isakov; Anna Regoutz; David J. Payne; Thomas D. Anthopoulos 出版日期:2016-12-15 |
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