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[高分]
Tracking and Optimizing Stress–Strain by Modeling Framework in High-Stack 3-D NAND Arrays |
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Xiaoshan Liu; Guokun Ma; Shiwen Wu; Cen Xia; Lin Lv; et al 出版日期:2026 |
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(2025-6-4)