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Drastic Mobility Enhancement of GaN MOSFETs with Graded AlGaN Buried-Channel Formed by Aluminum Thermal Diffusion |
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期刊:2024 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) 作者:T. Kondo; K. Ueno; R. Tanaka; T. Inamoto; S. Takashima 出版日期:2025-02-19 |
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(2025-6-4)