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 Impact of total ionizing dose on the alpha-soft error rate in FDSOI 28 nm SRAMs 总电离剂量对FDSOI 28 nm SRAM中α软错误率的影响
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：S. Moindjie; Daniela Munteanu; Jean‐Luc Autran; Victor Malherbe; Gilles Gasiot; et al 出版日期：2023-10-01 |
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