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 Impact of Externally Induced Local Mechanical Stress on Electrical Performance of Decananometer MOSFETs 外生局部机械应力对癸纳米MOSFET电学性能的影响
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晶体管
材料科学
MOSFET
压力（语言学）
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Kookjin Lee; B. Kaczer; Anastasiia Kruv; Mario González; Geert Eneman; et al 出版日期：2022-07-27 |
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