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 Investigation of the instability of low-temperature poly-silicon thin film transistors under a negative bias temperature stress 相关领域
材料科学
磁滞
薄膜晶体管
降级（电信）
负偏压温度不稳定性
光电子学
压力（语言学）
凝聚态物理
复合材料
阈值电压
硅
晶体管
不稳定性
电压
电子工程
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机械
物理
语言学
工程类
哲学
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期刊：Electronic Materials Letters 作者：Yu-Mi Kim; Kwang‐Seok Jeong; Ho‐Jin Yun; Seung‐Dong Yang; Sang-Youl Lee; et al 出版日期：2013-10-01 |
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