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专利、报告等 Microstructure and properties of electromigration of pure Sn and Sn3.5Ag micro solder joints |
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| DOI |
10.2139/ssrn.6149222
doi
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期刊: 作者:Keke Zhang; FuPeng Huo; Shigeaki Uchida; Yanzhen Zhang; Zhu Liu; et al 出版日期:2026-01-29 |
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(2025-6-4)