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Effect of nitrogen incorporation into Al-based gate insulators in AlON/AlGaN/GaN metal–oxide–semiconductor structures |
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期刊:Applied Physics Express 作者:Ryohei Asahara; Mikito Nozaki; Takahiro Yamada; Joyo Ito; Satoshi Nakazawa; et al 出版日期:2016-09-21 |
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