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 Interfacial stress characterization of GaN epitaxial layer with sapphire substrate by confocal Raman spectroscopy 相关领域
材料科学
拉曼光谱
氮化镓
外延
蓝宝石
光电子学
基质（水族馆）
图层（电子）
光学
激光器
纳米技术
海洋学
物理
地质学
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期刊：Nanotechnology and Precision Engineering 作者：Zengqi Zhang; Zongwei Xu; Ying Song; Tao Liu; Bing Dong; et al 出版日期：2021-03-22 |
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