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![]() 硅中的受体-氧缺陷:硼、镓、铟和铝与氧二聚体相互作用形成的中心的电子性质
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:Joyce Ann T. De Guzman; В. П. Маркевич; I.D. Hawkins; J. Coutinho; Hussein M. Ayedh; et al 出版日期:2021-12-28 |
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