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 Characterization of Intentional Contaminations at the HgCdTe Passivation Interface and Their Effects on Photodiode Performance HgCdTe钝化界面有意污染的表征及其对光电二极管性能的影响
相关领域
钝化
光电二极管
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期刊：Journal of Electronic Materials 作者：Steven BEL; Clément Lobre; Sarah Petit; M. Veillerot; Giacomo Badano 出版日期：2024-06-06 |
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