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Review on high-k dielectrics reliability issues
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网址
https://doi.org/10.1109/tdmr.2005.845236
DOI
10.1109/tdmr.2005.845236 doi
其它 期刊：IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
作者：G. Ribes; Jérôme Mitard; M. Denais; S. Bruyère; F. Monsieur; et al
出版日期：2005-03-01
求助人
23 在 2025-11-13 11:14:49 发布自安徽，悬赏 10 积分
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