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  Drag of electron–hole bilayer in silicon-on-insulator metal-oxide-semiconductor field-effect transistor at low temperature 绝缘体上硅金属氧化物半导体场效应晶体管中电子-空穴双层的低温阻力
相关领域
阻力
凝聚态物理
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期刊：Applied Physics Express 作者：Nabil Ahmed; Manjakavahoaka Razanoelina; Masahiro Hori; Akira Fujiwara; Yukinori Ono 出版日期：2024-05-24 |
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(2025-6-4)
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