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Improved X-Band Performance and Reliability of a GaN HEMT With Sunken Source Connected Field Plate Design 采用凹陷源极连接场板设计提高GaN HEMT X波段性能和可靠性
相关领域
高电子迁移率晶体管
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期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:Kyle M. Bothe; Satyaki Ganguly; Jia Guo; Yueying Liu; Alex Niyonzima; et al 出版日期:2022-01-24 |
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