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 Prognostics of Power MOSFETs under Thermal Stress Accelerated Aging using Data-Driven and Model-Based Methodologies 使用数据驱动和基于模型的方法预测热应力加速老化下的功率MOSFET
相关领域
预言
可靠性工程
压力（语言学）
功率MOSFET
计算机科学
材料科学
MOSFET
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电气工程
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语言学
哲学
晶体管
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期刊：Proceedings of the Annual Conference of the Prognostics and Health Management Society 作者：José Celaya; Abhinav Saxena; Sankalita Saha; Kai Goebel 出版日期：2011-09-25 |
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