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 Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis 扫描电子显微镜和X射线微量分析。J.戈尔茨坦、D。纽伯里、D。乔伊、C。莱曼、P。埃奇林、E。利弗申、L。索耶和J。迈克尔。纽约全会出版社Kluwer Academic2003年，688页（精装本，$75.00）是十亿0-306-47292-9
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期刊：Micron 作者：Gerhard Eisenbeis 出版日期：2003-09-22 |
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