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 Roles of Trap States in the Dynamic Degradation of Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors Under AC Gate Bias Stress 陷阱态在交流栅极偏压下多晶硅薄膜晶体管动态退化中的作用
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Bing Zhang; Dongli Zhang; Mingxiang Wang; Huaisheng Wang; Rongxin Wang 出版日期：2023-11-22 |
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