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![]() 混合栅凹结构和LiNbO3铁电电荷陷阱栅堆叠结构AlGaN/GaN增强型MOSHEMTs的制备与表征
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材料科学
光电子学
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Hsin-Ying Lee; Chia‐Hung Lin; Ching-Ting Lee 出版日期:2021-12-16 |
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