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The evaluation of assist feature defect printability for sub-0.13-μm technology 0.13 μ m以下辅助特征缺陷印刷适性的评价
相关领域
巴(单位)
薄脆饼
材料科学
失真(音乐)
光学
光电子学
物理
CMOS芯片
放大器
气象学
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期刊:Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE 作者:Changyoung Jeong; Young K. Kim; Ki-Yeop Park; Jae Seok Choi; Jeong Gun Lee 出版日期:2004-05-28 |
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