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[求助补充材料]
 Image Segmentation for FIB-SEM Serial Sectioning of a Si/C–Graphite Composite Anode Microstructure Based on Preprocessing and Global Thresholding 基于预处理和全局阈值的Si/C-石墨复合阳极FIB-SEM连续切片图像分割
相关领域
阈值
材料科学
聚焦离子束
微观结构
计算机科学
分割
阳极
扫描电子显微镜
人工智能
电极
复合材料
图像（数学）
离子
物理
量子力学
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期刊：Microscopy and Microanalysis 作者：Dongjae Kim; Sihyung Lee; Wooram Hong; Hyosug Lee; Seongho Jeon; et al 出版日期：2019-08-07 |
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