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 Competing Failure Mechanisms Impacting Long-Term Drift of a Bandgap Voltage Reference During Operational Life Tests 相关领域
材料科学
带隙基准
压力（语言学）
降级（电信）
电压
光电子学
温度测量
电气工程
电子工程
硅
结温
失效机理
静电放电
核工程
压力测试（软件）
加速寿命试验
复合材料
不稳定性
蠕动
硅带隙温度传感器
使用寿命
造型（装饰）
法律工程学
宽禁带半导体
电流（流体）
工作温度
故障率
加速老化
机械
工作（物理）
碳化硅
高压
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| DOI |
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10.48448/hqb8-e553
Doi
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| 其它 |
期刊：2026 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 作者：E.G. Marina Alonzo; R.T.H. Rongen; P. Turpin; P. Tounsi; S. Ben-Dhia 出版日期：2026 |
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(2025-6-4)
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