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 Defect Analysis of Rare‐Earth (Y, La, Sm) Oxide Doped AlN Ceramics for Electronic Device Applications 相关领域
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期刊：Journal of the American Ceramic Society 作者：Bowen Yin; Haoran Ren; Weijia Guo; Chongyang Zhang; Xingchen Zhang; et al 出版日期：2026-03-01 |
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