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![]() 自组装单层钝化中头基对InSnZnO薄膜晶体管性能的影响
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Chen Yiqiang; Bin Li; Wei Zhong; Dongxiang Luo; Guijun Li; et al 出版日期:2021-01-01 |
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