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Test Strategies on Non Volatile Memories Electrical Wafer Sort on NAND, NOR Flash and Phase Change Memories
非易失性存储器的测试策略NAND、NOR闪存和相变存储器的电子晶片分类
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期刊: 作者:P. Nicosia; F. Nava 出版日期:2007-01-01 |
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