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Sensing temperature in CMOS circuits for thermal testing |
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期刊:22nd IEEE VLSI Test Symposium, 2004. Proceedings. 作者:J. Altet; A. Rubio; A. Salhi; J. Gálvez; S. Dilhaire; et al 出版日期:2004-04-25 |
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(2025-6-4)