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 Failure Mechanism Analysis of Single-Event Effect in 4H-SiC Inverters 4H-SiC逆变器单事件效应失效机理分析
相关领域
机制（生物学）
碳化硅
失效机理
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冶金
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Yong Gu; Yurui Yang; Jie Ma; Hongyang Wen; Xiangyu Hou; et al 出版日期：2024-08-30 |
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