| 标题 |
Investigation of Threshold Voltage and Drain Current Degradations in Si3N4/AlGaN/GaN MIS-HEMTs Under X-Ray Irradiation X射线辐照下Si3N4/AlGaN/GaN MIS-HEMTs阈值电压和漏极电流退化的研究
相关领域
高电子迁移率晶体管
符号
光电子学
材料科学
物理
晶体管
电气工程
拓扑(电路)
数学
电压
组合数学
量子力学
工程类
算术
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Hung-Ming Kuo; Ting‐Chang Chang; Kai‐Chun Chang; Hsin-Ni Lin; Ting-Tzu Kuo; et al 出版日期:2023-03-17 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|