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Three-Dimensional Nondestructive Characterization of Extrinsic Frank-Type Stacking Faults in 4H-SiC Crystals 4H-SiC晶体中非本征Frank型层错的三维无损表征
相关领域
表征(材料科学)
堆积
材料科学
叠加断层
结晶学
无损检测
化学
纳米技术
物理
有机化学
量子力学
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期刊:Crystal Growth & Design 作者:M. Wang; Mingyang Wei; Yongfu Li; Yan Li; Qingbo Li; et al 出版日期:2024-12-10 |
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