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 Three-Dimensional Nondestructive Characterization of Extrinsic Frank-Type Stacking Faults in 4H-SiC Crystals 4H-SiC晶体中非本征Frank型层错的三维无损表征
相关领域
表征（材料科学）
堆积
材料科学
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结晶学
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化学
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物理
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期刊：Crystal Growth & Design 作者：M. Wang; Mingyang Wei; Yongfu Li; Yan Li; Qingbo Li; et al 出版日期：2024-12-10 |
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