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Nanoscale displacement measurement method and device design based on Moiré fringe amplification 基于莫尔条纹放大的纳米级位移测量方法及器件设计
相关领域
云纹
纳米尺度
材料科学
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期刊:Measurement 作者:Xianjie Li; J. He; Guili Xu; Xianhao Wu; Jian Wu 出版日期:2025-08-30 |
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