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 Integrated circuit failure analysis and reliability prediction based on physics of failure 基于失效物理学的集成电路失效分析与可靠性预测
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失效物理学
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期刊：Engineering Failure Analysis 作者：Jian Jiao; Xinlin De; Zhiwei Chen; Tingdi Zhao 出版日期：2019-06-03 |
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