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Application of SCF-LTDP technology for a-Si:H film defective passivation in X-ray PIN-based photosensor 相关领域
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期刊:Materials Science in Semiconductor Processing 作者:Jianjie Chen; Min-Chen Chen; Ting‐Chang Chang; Hong-Chih Chen; Kuan‐Ju Zhou; et al 出版日期:2022-12-24 |
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