| 标题 |
Probing the edge states of Chern insulators using microwave impedance microscopy 用微波阻抗显微镜探测Chern绝缘体的边缘状态
相关领域
拓扑绝缘体
GSM演进的增强数据速率
微波食品加热
等离子体子
物理
凝聚态物理
量子
光学(聚焦)
光电子学
量子力学
光学
电信
计算机科学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Physical review. B./Physical review. B 作者:Taige Wang; Chen Wu; Masataka Mogi; Minoru Kawamura; Yoshinori Tokura; et al 出版日期:2023-12-29 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|