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Photo-assisted Kelvin probe force microscopy investigation of three dimensional GaN structures with various crystal facets, doping types, and wavelengths of illumination
不同晶面、掺杂类型和光照波长的三维GaN结构的光辅助Kelvin探针力显微镜研究
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期刊:Journal of applied physics 作者:Manal Ali Deeb; Johannes Ledig; Jiandong Wei; Xue Wang; H.‐H. Wehmann; et al 出版日期:2017-08-25 |
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