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SiC MOSFET threshold voltage stability during power cycling testing and the impact on the result interpretation
SiC MOSFET功率循环测试阈值电压稳定性及其对结果解释的影响
相关领域
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期刊: 作者:Christian Schwabe; Xing Liu; Tobias N. Wassermann; Paul Salmen; Thomas Basler 出版日期:2023-03-01 |
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