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Study of Proton-Induced Defects in 40-nm CMOS SPADs 40nm CMOS SPADs中质子诱导缺陷的研究
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期刊:IEEE Transactions on Nuclear Science 作者:Ali Jouni; Victor Malherbe; Bastien Mamdy; Thomas Thery; Mathieu Sicre; et al 出版日期:2023-03-15 |
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