SiC IGBT degradation mechanism investigation under HV-H3TRB tests

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标题	SiC IGBT degradation mechanism investigation under HV-H3TRB tests 相关领域钝化材料科学碳化硅光电子学湿度绝缘栅双极晶体管栅氧化层击穿电压电气工程电压晶体管复合材料冶金图层（电子）工程类物理热力学
网址	http://dx.doi.org/10.1007/s43236-023-00726-9
DOI	10.1007/s43236-023-00726-9 doi
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