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 In situ electrical and mechanical study of Indium Tin Oxide films deposited on polyimide substrate by Xe ion beam sputtering Xe离子束溅射沉积在聚酰亚胺基底上的氧化铟锡薄膜的原位电学和力学研究
相关领域
材料科学
氧化铟锡
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期刊：Thin Solid Films 作者：Thibault Chommaux; P.-O. Renault; Dominique Thiaudière; P. Godard; F. Paumier; et al 出版日期：2021-12-05 |
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