| 标题 |
 The role of intrinsic trap states in the semiconductor/insulating interface on the electrical performance of spray-coated thin-film transistors 半导体/绝缘界面中本征陷阱态对喷涂薄膜晶体管电学性能的作用
相关领域
材料科学
薄膜晶体管
电介质
半导体
阈值电压
晶体管
光电子学
场效应
图层（电子）
电压
复合材料
电气工程
工程类
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| 其它 |
期刊：Materials Science in Semiconductor Processing 作者：João P. Braga; Cleber A. Amorim; Guilherme R. De Lima; Giovani Gozzi; Lucas Fugikawa-Santos 出版日期：2022-08-04 |
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miravai
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