| 标题 |
专利、报告等 Plasma Etching of Nitrogen-Rich TaN Films Using SF6/Ar Chemistry and Oxide Hard Mask: Polymer Residue Formation and Removal Challenges |
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| DOI |
10.2139/ssrn.7175176
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期刊: 作者:Angela Crespi; Sébastien AVERTIN; Pathé Tewe; Ferdinando Iucolano; Aurore Constant; et al 出版日期:2026-07-25 |
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(2025-6-4)