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  Carrier Trap and Their Effects on the Surface and Core of AlGaN/GaN Nanowire Wrap-Gate Transistor AlGaN/GaN纳米线缠绕栅晶体管表面和核心的载流子陷阱及其影响
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期刊：Nanomaterials 作者：Siva Pratap Reddy Mallem; Peddathimula Puneetha; Dong-Yeon Lee; Yoonkap Kim; Han‐Jung Kim; et al 出版日期：2023-07-22 |
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