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 A Proof-of-Concept of a Multiple-Cell Upsets Detection Method for SRAMs in Space Applications 相关领域
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期刊：IEEE Transactions on Circuits and Systems I Regular Papers 作者：Leonardo H. Brendler; H. Lapuyade; Yann Deval; F. Darracq; Frédéric Fauquet; et al 出版日期：2023-09-13 |
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