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Quantitative analysis on z-interference using reprogram scheme in 3D NAND flash memory Vth distribution 三维NAND闪存Vth分布中z干扰的重编程定量分析
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期刊:Solid-State Electronics 作者:Joo‐Young Lee; Jinil Yoo; Hyungcheol Shin 出版日期:2025-08-05 |
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