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Non-destructive shelf-life prediction models for sweet corn via NIR spectroscopy and integrated postharvest quality parameters 基于近红外光谱和综合采后品质参数的甜玉米货架期无损预测模型
相关领域
采后
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食品保存
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期刊:Postharvest Biology and Technology 作者:Phanaphon Jomnong; Sujitra Funsueb; Chanat Thanavanich; Parichat Theanjumpol; Nadthawat Muenmanee; et al 出版日期:2025-04-14 |
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