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White spots reduction by ultimate proximity metal gettering at carbon complexes formed underneath contact area in CMOS image sensors |
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期刊:2016 IEEE Symposium on VLSI Technology 作者:Tadashi Yamaguchi; Tomohiro Yamashita; Takeshi Kamino; Yotaro Goto; Takashi Kuroi; Masazumi Matsuura 出版日期:2016-10-07 |
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