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 Experimental Analysis and Modeling of Self-Heating and Thermal Coupling in 28 nm FD-SOI CMOS Transistors Down to Cryogenic Temperatures 28 nm FD-SOI CMOS晶体管低温下自加热和热耦合的实验分析和建模
相关领域
绝缘体上的硅
CMOS芯片
材料科学
晶体管
联轴节（管道）
低温
光电子学
热的
低温学
电气工程
物理
工程类
硅
电压
热力学
复合材料
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：F. E. Bergamaschi; T. Mota Frutuoso; Bruna Cardoso Paz; G. Billiot; A. G. M. Jansen; et al 出版日期：2024-02-27 |
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